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日本SII新型荧光X线分析设备,现场轻松检测有害金属


    【日经BP社报道】日本精工电子纳米科技公司(SII纳米科技。总部:东京)将于2005年11月上旬推出可检测土壤中有害金属的小型荧光X线分析设备"SEA1100"。可检测原子数为13(Al)~92(U)的元素。设备重量降到了过去的约50%,即40kg。通过在设备侧面内置用于搬运设备的折叠式把手,携带起来很方便。由于不需使用液态氮对检测器进行冷却,因此只要提供电源,即可进行测定。价格约为600万日元。 

   通过采用钨X射线管,可以轻松地对砷(As)和铅(Pb)进行分析。同时,将镉的检测灵敏度提高到了过去的4倍左右,而老机型则很难对镉进行分析。另外,通过使用二次过滤器,降低了土壤中铁(Fe)对检测铅产生的影响。过去,由于砷和铅是在同一位置对峰值进行检测,因此很难判别是砷,还是铅。此次通过配备最新开发的峰值分离功能,就能分离并检测出二者的峰值。 

  软件方面则配备了以"○"和"×"这样的符号,显示所指定的有害元素是否已经超标的功能。因此即使没有分析技术与测定设备的相关知识,也能轻松完成测定和评估工作。测定到的数据可以传输给表格运算软件,以报告的形式自动进行输出。考虑到安全问题,在设计上假如门(图中蓝色部分)处于关闭状态,将不能照射X线。不需X线认证操作师资格及管理区域设置。


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